Nikolaus Czepl

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• 16 Beitrag in einem Konferenzband
• 2 Artikel

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• 2024

  Electromagnetic emission of integrated circuits induced by ionizing radiation and its measurement uncertainties

  Titel in Übersetzung: Elektromagnetische Störemission von integrierten Schaltkreisen verursacht durch ionisierende Strahlung sowie die Bestimmung der MessunsicherheitenCzepl, N., Juch, N. & Deutschmann, B., März 2024, in: Elektrotechnik und Informationstechnik. 141, 1, S. 56-65 10 S.

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  Open Access

  • Integrated Circuit 100%
  • Measurement Uncertainty 100%
  • Electronic Circuit 100%
  • Measurement 60%
  • Radiation Effect 40%
• 2023

  A Method to Measure the Electromagnetic Emission Induced by Electromagnetic Interference of Integrated Circuits

  Kircher, D., Czepl, N., Zupan, D. & Deutschmann, B., 2023, (Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.) 2023 Joint Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility and International Conference on ElectroMagnetic Interference and Compatibility, APEMC/INCEMIC 2023. Institute of Electrical and Electronics Engineers, 4 S.

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  • Electromagnetic Interference 100%
  • Integrated Circuit 100%
  • Electronic Circuit 100%
  • Measurement 28%
  • Frequency Ranges 14%

• EMI Induced Electromagnetic Emission of ICs in non fail states

  Kircher, D., Czepl, N. & Zupan, D., 27 Sept. 2023, 20. EMV-Fachtagung: störungsfreie Elektronik und Geräte : 27.-28. September 2023, Seibersdorf Laboratories. Lamedschwandner, K. (Hrsg.). Wien: Österreichischer Verband für Elektrotechnik, S. 40 1 S. (OVE-Schriftenreihe; Band 110).

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• Framework to Simulate and Analyse the Electromagnetic Emission of Integrated Circuits under Electromagnetic Interference

  Zupan, D., Kircher, D., Czepl, N. & Deutschmann, B., 5 Juli 2023, 2023 19th International Conference on Synthesis, Modeling, Analysis and Simulation Methods and Applications to Circuit Design (SMACD). ACM/IEEE, 4 S. 10192236

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  • Electromagnetic Interference 100%
  • Integrated Circuit 100%
  • Electromagnetic Compatibility 100%
  • Electromagnetic 100%
  • Electronic Circuit 100%

• Impact of Radio Frequency Interference on the Electromagnetic Emission of Integrated Circuits

  Czepl, N., Kircher, D. & Zupan, D., 27 Sept. 2023, 20. EMV-Fachtagung: störungsfreie Elektronik und Geräte : 27.-28. September 2023, Seibersdorf Laboratories. Lamedschwandner, K. (Hrsg.). Wien: Österreichischer Verband für Elektrotechnik, (OVE-Schriftenreihe; Band 110).

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• Interference-induced Electromagnetic Emission in Functioning Operating States of Integrated Circuits

  Czepl, N., Kircher, D. & Deutschmann, B., 2023, (Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung.) 2023 International Symposium on Electromagnetic Compatibility - EMC Europe, EMC Europe 2023. Institute of Electrical and Electronics Engineers, 4 S.

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  • Integrated Circuit 100%
  • Operating State 100%
  • Electronic Circuit 100%
  • Electromagnetic Interference 25%
  • Frequency Ranges 12%

• Measurement of Integrated Folded Cascode Amplifier Structures with Different EMI Improved Differential Input Pairs

  Zupan, D., Czepl, N. & Kircher, D., 27 Sept. 2023, 20. EMV-Fachtagung: störungsfreie Elektronik und Geräte : 27.-28. September 2023, Seibersdorf Laboratories. Lamedschwandner, K. (Hrsg.). Wien: Österreichischer Verband für Elektrotechnik, (OVE-Schriftenreihe; Band 110).

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• 2022

  Comparison of Simulation and Measurement of EMI-Induced Offset Voltages Occuring at Folded Cascode Operational Amplifiers

  Czepl, N., Zupan, D. & Kircher, D., 11 Okt. 2022, Austrochip 2022 - 30th Austrochip Workshop on Microelectronics. Institute of Electrical and Electronics Engineers, S. 53-56 4 S.

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  • Measurement 100%
  • Electromagnetic Interference 100%
  • Operational Amplifier 100%
  • Offset Voltage 100%
  • Amplifier 100%

• DPI Testing Beyond Nominal Operating Conditions

  Kircher, D., Zupan, D. & Czepl, N., 22 Sept. 2022, 19. EMV-Fachtagung 2022.

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• Framework for Developing Neural Network Regression Models Predicting the Influence of EMI on Integrated Circuits

  Zupan, D., Czepl, N. & Kircher, D., Juli 2022, 2022 International Conference on Synthesis, Modeling, Analysis and Simulation Methods, and Applications to Circuit Design (SMACD 2022). 4 S.

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  • Integrated Circuits 100%
  • Neural Network 100%
  • Artificial Intelligence 100%
  • Regression Model 100%
  • Induced Interference 25%

• Influence of Layout Parasitics on EMI Improved Folded Cascode Amplifier Input Stages Using Compensation Methods

  Zupan, D., Czepl, N. & Deutschmann, B., 9 März 2022, 2021 13th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo). Institute of Electrical and Electronics Engineers, S. 9-12 4 S.

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  • Electromagnetic Interference 100%
  • Input Stage 100%
  • Cascode Amplifier 100%
  • Stages 14%
  • Product 14%

• Influence of Radio Frequency Interference on the Electromagnetic Emission of Integrated Circuits

  Kircher, D., Deutschmann, B. & Czepl, N., 2022, 2022 International Symposium on Electromagnetic Compatibility - EMC Europe, EMC Europe 2022. Institute of Electrical and Electronics Engineers, S. 257-261 5 S.

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  • Radio Frequency 100%
  • Integrated Circuit 100%
  • Electromagnetic 100%
  • Electronic Circuit 100%
  • Electromagnetic Compatibility 60%

• Investigating Different EMI Improved Differential Input Pair Structures Within an Integrated Folded Cascode Amplifier

  Zupan, D., Czepl, N. & Kircher, D., 22 Sept. 2022, 19. EMV-Fachtagung 2022.

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• Predicting the EMI Induced Offset of a Differential Amplifier Stage using a Neural Network Model

  Zupan, D., Kircher, D. & Czepl, N., 5 Sept. 2022, 2022 International Symposium on Electromagnetic Compatibility - EMC Europe, EMC Europe 2022. Institute of Electrical and Electronics Engineers, S. 325-328 4 S.

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  • Stages 100%
  • Models 100%
  • Electromagnetic Interference 100%
  • Network Model 100%
  • Amplifier Stage 100%

• Testing of Chip-Level Electromagnetic Compatibility Under Ionizing Radiation Stress

  Czepl, N., Kircher, D. & Zupan, D., 22 Sept. 2022, 19. EMV-Fachtagung 2022.

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• 2021

  Influence of ionizing radiation on the conducted electromagnetic emission of integrated circuits

  Czepl, N., Deutschmann, B. & Michalowska-Forsyth, A., Nov. 2021, in: Microelectronics Reliability. 126, 114335.

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  • Ray Radiation 100%

• Influence of Layout Parasitics on EMI Improved Folded Cascode Amplifier Input Stages Using Filtering and Linearisation Methods

  Zupan, D., Czepl, N. & Deutschmann, B., 2021, Proceedings of the 2021 Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility, APEMC 2021. Institute of Electrical and Electronics Engineers, S. 1-4

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  • Offset Voltage 100%

• Noise Behaviour of EMI Improved Folded Cascode Amplifier Input Stages Including Layout Parasitics

  Czepl, N. & Zupan, D., 14 Okt. 2021, 2021 29th Austrochip Workshop on Microelectronics, Austrochip 2021. S. 13-16 4 S. (2021 29th Austrochip Workshop on Microelectronics, Austrochip 2021).

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  • Electromagnetic Interference 100%
  • Input Stage 100%
  • Cascode Amplifier 100%
  • Stages 33%
  • Filtration 33%