19982019

Publikationen pro Jahr

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Publikationen

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(Altdaten) Vortrag oder Präsentation
2015

Focused Ion Beam Preparation for Transmission Electron Microscopy

Dienstleder, M., Gspan, C., Kothleitner, G. & Hofer, F., 23 Aug 2015.

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder PräsentationForschung

High spatial and energy resolution x-ray analysis of thin specimens by scanning electron microscopy

Mitsche, S., Melischnig, A., Haberfehlner, G., Dienstleder, M. & Pölt, P., 3 Mai 2015.

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder PräsentationForschung

2014

Temperature Evolution during Focused Ion Beam Processing of Soft Matter: From Fundamentals towards TEM Lamella Preparation

Schmied, R., Orthacker, A., Kraxner, J., Fröch, J., Chernev, B. S., Dienstleder, M. & Plank, H., 8 Mai 2014.

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder PräsentationForschung

2013

Probing deep polymer layers - preparing for a dive

Wilhelm, P., Chernev, B. S., Mayrhofer, C. & Dienstleder, M., 7 Jul 2013.

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder PräsentationForschung

2012

30M Progress Report in ESiP

Dienstleder, M., Gspan, C. & Grogger, W., 8 Nov 2012.

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder PräsentationForschung

2011

Fundamental Proximity Effects of Electron Beam Induced Platinum Deposition

Schmied, R., Gspan, C., Dienstleder, M., Michelitsch, S. & Plank, H., 4 Sep 2011.

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder PräsentationForschung

2010

Raman microprobe imaging of submicron structures and interdisciplinary characterization of beam damage

Wilhelm, P., Chernev, B. S., Plank, H., Sezen, M., Dienstleder, M. & Hofer, F., 29 Aug 2010.

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder PräsentationForschung

2009

The Effect of FIB Process Parameters on the Surface Morphology of Thin Lamellas

Dienstleder, M., Plank, H., Gspan, C., Kothleitner, G. & Hofer, F., 29 Jun 2009.

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder PräsentationForschung

2008

A novel method for precipitates preparation using extraction replica combined with focused ion beam techniques

Dienstleder, M., Plank, H., Gspan, C., Albu, M. & Kothleitner, G., 3 Jul 2008.

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder PräsentationForschung

A novel method for precipitates preparation using replica extraction combined with focused ion beam techniques

Dienstleder, M., Plank, H., Gspan, C., Kothleitner, G. & Hofer, F., 1 Sep 2008.

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder PräsentationForschung

Low-loss EELS measurements on an oxide multilayer system using monochrome

Kothleitner, G., Schaffer, B. & Dienstleder, M., 1 Sep 2008.

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder PräsentationForschung

Process Parameters for Particle Induced Deposition

Plank, H., Gspan, C., Dienstleder, M., Kothleitner, G. & Hofer, F., 3 Jul 2008.

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder PräsentationForschung

2005

TEM, EELS, and EFTEM: Application to Semiconductor Materials and Device Characterization

Grogger, W., Gspan, C., Schaffer, B., Dienstleder, M., Rogers, M., Brunegger, A. & Hofer, F., 15 Sep 2005.

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder PräsentationForschung