19982020

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The influence of beam defocus on volume growth rates for electron beam induced platinum deposition

Plank, H., Dienstleder, M., Kothleitner, G. & Hofer, F., 2008, European Microscopy Congress. Berlin: Springer, Band Volume1. S. 683-684 (Instrumentation and Methods).

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The Effect of Process Parameters on the Surface Morphology of Thin FIB Lamellas

Dienstleder, M., Plank, H., Gspan, C., Kothleitner, G. & Hofer, F., 2009, Instrumentation and Methodology. Wien: Facultas, S. 253-254 (Instrumentation and Methodology).

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Probing deep polymer layers - preparing for a dive

Wilhelm, P., Chernev, B. S., Mayrhofer, C. & Dienstleder, M., 2013, European Symposium on Polymer Spectroscopy. ., S. 39-39

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Preparation of Transmission Electron Microscopy Samples by Mechanical Techniques in Combination with Low-Voltage Ion Milling

Trummer, C., Dienstleder, M. & Kothleitner, G., 2017, ASEM. S. 46

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Oxide Ceramic-Electrode Systems: STEM EDXS Analyses and Heating Experiments

Lammer, J., Dienstleder, M., Fisslthaler, E., Rauch, S. & Grogger, W., 2018, Program & Abstract Book. S. 22-23

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Optimization of the FIB milling conditions for RTP-processed Niobium and Tantalumnitride thin films on silicon substrates

Dienstleder, M., Rogers, M., Kothleitner, G., Hofer, F. & Kolbesen, B. O., 2005, Microscopy Conference - Dreiländertagung. ., S. 4-4

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Optimization of post-tratment of TEM lamella by low-energy ion milling

Seidl, R., Dienstleder, M., Grogger, W. & Fisslthaler, E., 2016, 6th ASEM-Workshop. Leoben, S. 20 1 S.

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Low-loss EELS measurements on an oxide multilayer system using monochrome electrons

Kothleitner, G., Schaffer, B. & Dienstleder, M., 2008, European Microscopy Congress. Berlin: Springer, Band Volume1. S. 399-400 (Instrumentation and Methods).

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Investigation of domains in Pr2NiO4+delta by transmission electron microscopy

Gspan, C., Bucher, E., Egger, A., Schrödl, N., Berger, C., Dienstleder, M., Mitsche, S., Sitte, W. & Grogger, W., 2017, 13th Multinational Congress on Microscopy September 24-29, 2017 in Rovinj, Croatia. S. 622-625

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High spatial and energy resolution x-ray analysis of thin specimens by scanning electron microscopy

Mitsche, S., Haberfehlner, G., Dienstleder, M. & Pölt, P., 2015, Modern development and applications in microbeam analysis. ., S. 373-373

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Fundamental proximity effects for electron beam induced deposition processes

Schmied, R., Gspan, C., Dienstleder, M., Michelitsch, S. & Plank, H., 2011, Multinational Congress on Microscopy. ., S. 517-518

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Focused Ion Beam Preparation for Transmission Electron Microscopy

Dienstleder, M., Gspan, C., Kothleitner, G. & Hofer, F., 2015, Multinational Congress on Microscopy. ., S. O-135-101-103

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Challenges in sample preparation for HRSTEM analysis

Dienstleder, M. & Kothleitner, G., 2017, ASEM. S. 49

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A Quantitative EDXS Analysis of Oxide Ceramic-Electrode Systems

Lammer, J., Dienstleder, M., Rauch, S. & Grogger, W., 2018, ELMINA 2018. S. PO1,8

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A novel method for precipitates preparation using extraction replicas combined with focused ion beam techniques

Dienstleder, M., Plank, H., Kothleitner, G. & Hofer, F., 2008, European Microscopy Congress. Berlin: Springer, Band Volum1. S. 807-809 (Instrumentation and Methods).

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