19982019

Publikationen pro Jahr

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Publikationen

2018

A Quantitative EDXS Analysis of Oxide Ceramic-Electrode Systems

Lammer, J., Fisslthaler, E., Dienstleder, M. & Grogger, W., 27 Aug 2018.

Publikation: KonferenzbeitragAbstractForschungBegutachtung

A Quantitative EDXS Analysis of Oxide Ceramic-Electrode Systems

Lammer, J., Dienstleder, M., Rauch, S. & Grogger, W., 2018, ELMINA 2018. S. PO1,8

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

Impact of the NO Anneal on the Microscopic Structure and Chemical Composition of the Si‐Face 4H‐SiC/SiO2 Interface

Gruber, G., Gspan, C., Fisslthaler, E., Dienstleder, M., Pobegen, G., Aichinger, T., Meszaros, R., Grogger, W. & Hadley, P., 2018, in : Advanced energy materials. 5, S. 1800022 7 S.

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

Open Access

Oxide Ceramic-Electrode Systems: STEM EDXS Analyses and Heating Experiments

Lammer, J., Dienstleder, M., Fisslthaler, E., Rauch, S. & Grogger, W., 2018, Program & Abstract Book. S. 22-23

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschung

2017

Challenges in sample preparation for HRSTEM analysis

Dienstleder, M. & Kothleitner, G., 2017, ASEM. S. 49

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschung

Investigation of domains in Pr2NiO4+delta by transmission electron microscopy

Gspan, C., Bucher, E., Egger, A., Schrödl, N., Berger, C., Dienstleder, M., Mitsche, S., Sitte, W. & Grogger, W., 2017, 13th Multinational Congress on Microscopy September 24-29, 2017 in Rovinj, Croatia. S. 622-625

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschung

Low energy argon ion sample preparation for HRSTEM analysis

Dienstleder, M., Fisslthaler, E., Gspan, C. & Kothleitner, G., 2017.

Publikation: KonferenzbeitragPosterForschung

Datei

Preparation of Transmission Electron Microscopy Samples by Mechanical Techniques in Combination with Low-Voltage Ion Milling

Trummer, C., Dienstleder, M. & Kothleitner, G., 2017, ASEM. S. 46

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschung

2016

Optimization of post-tratment of TEM lamella by low-energy ion milling

Seidl, R., Dienstleder, M., Grogger, W. & Fisslthaler, E., 2016, 6th ASEM-Workshop. Leoben, S. 20 1 S.

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschung

Precipitation of Long-Period Stacking Ordered Structure in Mg–Gd–Zn–Mn Alloy

Li, J., Albu, M., Wu, Y., Peng, L., Dienstleder, M., Kothleitner, G., Hofer, F. & Schumacher, P., 22 Dez 2016, in : Advanced Engineering Materials. S. 74-77

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

2015

Focused Ion Beam Preparation for Transmission Electron Microscopy

Dienstleder, M., Gspan, C., Kothleitner, G. & Hofer, F., 2015, Multinational Congress on Microscopy. ., S. O-135-101-103

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

Focused Ion Beam Preparation for Transmission Electron Microscopy

Dienstleder, M., Gspan, C., Kothleitner, G. & Hofer, F., 23 Aug 2015.

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder PräsentationForschung

High spatial and energy resolution x-ray analysis of thin specimens by scanning electron microscopy

Mitsche, S., Melischnig, A., Haberfehlner, G., Dienstleder, M. & Pölt, P., 3 Mai 2015.

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder PräsentationForschung

High spatial and energy resolution x-ray analysis of thin specimens by scanning electron microscopy

Mitsche, S., Haberfehlner, G., Dienstleder, M. & Pölt, P., 2015, Modern development and applications in microbeam analysis. ., S. 373-373

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

2014

Linking TEM Analytical Spectroscopies for an Assumptionless Compositional Analysis

Kothleitner, G., Grogger, W., Dienstleder, M. & Hofer, F., 2014, in : Microscopy and microanalysis. 20, S. 676-686

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

Temperature Evolution during Focused Ion Beam Processing of Soft Matter: From Fundamentals towards TEM Lamella Preparation

Schmied, R., Orthacker, A., Kraxner, J., Fröch, J., Chernev, B. S., Dienstleder, M. & Plank, H., 8 Mai 2014.

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder PräsentationForschung

2013

Probing deep polymer layers - preparing for a dive

Wilhelm, P., Chernev, B. S., Mayrhofer, C. & Dienstleder, M., 7 Jul 2013.

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder PräsentationForschung

Probing deep polymer layers - preparing for a dive

Wilhelm, P., Chernev, B. S., Mayrhofer, C. & Dienstleder, M., 2013, European Symposium on Polymer Spectroscopy. ., S. 39-39

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

2012

30M Progress Report in ESiP

Dienstleder, M., Gspan, C. & Grogger, W., 8 Nov 2012.

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder PräsentationForschung

2011

Fundamental proximity effects for electron beam induced deposition processes

Schmied, R., Gspan, C., Dienstleder, M., Michelitsch, S. & Plank, H., 2011, Multinational Congress on Microscopy. ., S. 517-518

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

Fundamental Proximity Effects of Electron Beam Induced Platinum Deposition

Schmied, R., Gspan, C., Dienstleder, M., Michelitsch, S. & Plank, H., 4 Sep 2011.

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder PräsentationForschung

2010

Raman microprobe imaging of submicron polymer structures and interdisciplinary characterization of beam damage

Plank, H., Chernev, B. S., Sezen, M., Dienstleder, M., Haber, T., Wilhelm, P. & Hofer, F., 2010.

Publikation: KonferenzbeitragPosterForschung

Raman microprobe imaging of submicron structures and interdisciplinary characterization of beam damage

Wilhelm, P., Chernev, B. S., Plank, H., Sezen, M., Dienstleder, M. & Hofer, F., 29 Aug 2010.

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder PräsentationForschung

2009

The Effect of FIB Process Parameters on the Surface Morphology of Thin Lamellas

Dienstleder, M., Plank, H., Gspan, C., Kothleitner, G. & Hofer, F., 29 Jun 2009.

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder PräsentationForschung

The Effect of Process Parameters on the Surface Morphology of Thin FIB Lamellas

Dienstleder, M., Plank, H., Gspan, C., Kothleitner, G. & Hofer, F., 2009, Instrumentation and Methodology. Wien: Facultas, S. 253-254 (Instrumentation and Methodology).

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

2008

A novel method for precipitates preparation using extraction replica combined with focused ion beam techniques

Dienstleder, M., Plank, H., Gspan, C., Albu, M. & Kothleitner, G., 3 Jul 2008.

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder PräsentationForschung

A novel method for precipitates preparation using extraction replicas combined with focused ion beam techniques

Dienstleder, M., Plank, H., Kothleitner, G. & Hofer, F., 2008, European Microscopy Congress. Berlin: Springer, Band Volum1. S. 807-809 (Instrumentation and Methods).

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

A novel method for precipitates preparation using replica extraction combined with focused ion beam techniques

Dienstleder, M., Plank, H., Gspan, C., Kothleitner, G. & Hofer, F., 1 Sep 2008.

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder PräsentationForschung

Investigation of Yb substitution in the calthrate phase EU8Ga16Ge30

Paschen, S., Gspan, C., Grogger, W., Dienstleder, M., Laumann, S., Pongratz, P., Sassik, H., Wernisch, J. & Prokofiev, A., 2008, in : Journal of Crystal Growth. 310, S. 1853-1858

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

Low-loss EELS measurements on an oxide multilayer system using monochrome

Kothleitner, G., Schaffer, B. & Dienstleder, M., 1 Sep 2008.

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder PräsentationForschung

Low-loss EELS measurements on an oxide multilayer system using monochrome electrons

Kothleitner, G., Schaffer, B. & Dienstleder, M., 2008, European Microscopy Congress. Berlin: Springer, Band Volume1. S. 399-400 (Instrumentation and Methods).

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

Process Parameters for Particle Induced Deposition

Plank, H., Gspan, C., Dienstleder, M., Kothleitner, G. & Hofer, F., 3 Jul 2008.

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder PräsentationForschung

The influence of beam defocus on volume growth rates for electron beam induced platinum deposition

Plank, H., Gspan, C., Dienstleder, M., Kothleitner, G. & Hofer, F., 2008, in : Nanotechnology. 19, 48, S. 485302-485311

Publikation: Beitrag in einer FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

The influence of beam defocus on volume growth rates for electron beam induced platinum deposition

Plank, H., Dienstleder, M., Kothleitner, G. & Hofer, F., 2008, European Microscopy Congress. Berlin: Springer, Band Volume1. S. 683-684 (Instrumentation and Methods).

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

2007

in-situ TEM Probenpräparation von verspannten Proben mittels Sandwich Technik

Rogers, M. & Dienstleder, M., 2007.

Publikation: KonferenzbeitragPosterForschung

2005

Optimization of the FIB milling conditions for RTP-processed Niobium and Tantalumnitride thin films on silicon substrates

Dienstleder, M., Rogers, M., Kothleitner, G., Hofer, F. & Kolbesen, B. O., 2005, Microscopy Conference - Dreiländertagung. ., S. 4-4

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

TEM, EELS, and EFTEM: Application to Semiconductor Materials and Device Characterization

Grogger, W., Gspan, C., Schaffer, B., Dienstleder, M., Rogers, M., Brunegger, A. & Hofer, F., 15 Sep 2005.

Publikation: Konferenzbeitrag(Altdaten) Vortrag oder PräsentationForschung