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Lukas Konrad

Bakk.rer.nat. MSc.

20152019

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Publikationen

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Beitrag in einem Konferenzband
2015

EEL and EDX spectroscopic sensitivity factors for the quantitative analysis of hard metals

Konrad, L., Lattemann, M., Kraxner, J., Knez, D., Orthacker, A., Grogger, W. & Kothleitner, G., 2015, ASEM Workshop Advanced Electron Microscopy. ., S. 19-19

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EELS and EDX spectroscopy for the quantitative analysis of hard metals

Konrad, L., Lattemann, M., Jorissen, K., Rehr, J., Kraxner, J., Knez, D., Orthacker, A., Grogger, W. & Kothleitner, G., 2015, Multinational Congress on Microscopy. ., S. PO-273-280-282

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Reliable quantification of X-ray spectra using ζ-factors: from standards to geometry

Kraxner, J., Konrad, L., Knez, D., Orthacker, A., Rauch, S., Paller, M., Kothleitner, G. & Grogger, W., 2015, ASEM Workshop Advanced Electron Microscopy. ., S. 27-27

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RELIABLE QUANTIFICATION OF X-RAY SPECTRA USING ζ-FACTORS: FROM STANDARDS TO GEOMETRY

Kraxner, J., Konrad, L., Knez, D., Orthacker, A., Rauch, S., Paller, M., Kothleitner, G. & Grogger, W., 2015, Multinational Congress on Microscopy. ., S. O-239-80-82

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2016

How Multiple Scattering Simultations help for EELS Compositional Analysis of Hard Metals and Ceramics

Konrad, L., Lattemann, M. & Kothleitner, G., 2016, 6th ASEM Workshop. Leoben, S. 31 1 S.

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