20122018
Wenn Sie Änderungen in Pure vorgenommen haben, werden diese hier in Kürze erscheinen.

Forschungsoutput 2012 2018

Filter
Beitrag in einem Konferenzband
2017

Electron tomography – three-dimensional atomic, elemental and field mapping

Haberfehlner, G., Orthacker, A., Schmidt, F., Knez, D. & Kothleitner, G., 2017, Acta Crystallographica Section A: Microsymposium. Band A73. S. C120 1 S.

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschung

Investigation of the non-equilibrium formation of stoichiometric precipitates in multi-component aluminium alloys

Orthacker, A., Haberfehlner, G., Tändl, J., Poletti, M. C., Sonderegger, B. & Kothleitner, G., 2017, ASEM. S. 50

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschung

2016

Analytical Electron Tomographic Invesigations Revealing Self Stabilization of Core-Shell Precipitates through Opposing Diffusion Processes

Orthacker, A., Haberfehlner, G., Tändl, J., Poletti, M. C., Sonderegger, B. & Kothleitner, G., 2016, 6th ASEM-Workshop: Advanced Electron Microscopy. Leoben, S. 8 1 S.

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschung

2015

Analytical Electron Tomographic Investigation of an Aluminium Alloy with Nano-Precipitates

Orthacker, A., Haberfehlner, G., Tändl, J., Poletti, M. C. & Kothleitner, G., 2015, ASEM Workshop Advanced Electron Microscopy. ., S. 39-39

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

EEL and EDX spectroscopic sensitivity factors for the quantitative analysis of hard metals

Konrad, L., Lattemann, M., Kraxner, J., Knez, D., Orthacker, A., Grogger, W. & Kothleitner, G., 2015, ASEM Workshop Advanced Electron Microscopy. ., S. 19-19

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

EELS and EDX spectroscopy for the quantitative analysis of hard metals

Konrad, L., Lattemann, M., Jorissen, K., Rehr, J., Kraxner, J., Knez, D., Orthacker, A., Grogger, W. & Kothleitner, G., 2015, Multinational Congress on Microscopy. ., S. PO-273-280-282

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

High-Fidelity Shapes and Disruption Mechanism during Focused Electron Beam Induced Deposition

Winkler, R., Arnold, G., Schmied, R., Szkudlarek, A., Orthacker, A., Fowlkes, J. D., Timilsina, R., Kothleitner, G., Rack, P. D., Utke, I. & Plank, H., 2015, ASEM Workshop Advanced Electron Microscopy. ., S. 36-36

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

Reliable quantification of X-ray spectra using ζ-factors: from standards to geometry

Kraxner, J., Konrad, L., Knez, D., Orthacker, A., Rauch, S., Paller, M., Kothleitner, G. & Grogger, W., 2015, ASEM Workshop Advanced Electron Microscopy. ., S. 27-27

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

RELIABLE QUANTIFICATION OF X-RAY SPECTRA USING ζ-FACTORS: FROM STANDARDS TO GEOMETRY

Kraxner, J., Konrad, L., Knez, D., Orthacker, A., Rauch, S., Paller, M., Kothleitner, G. & Grogger, W., 2015, Multinational Congress on Microscopy. ., S. O-239-80-82

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

2014

Extending analytical STEM to three dimension: Spectral EELS and EDX tomography of an Al-Si based alloy

Haberfehlner, G., Albu, M., Orthacker, A. & Kothleitner, G., 2014, European Workshop on Spatially-Resolved Electron Spectroscopy. ., S. 18-18

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschung

Four-dimensional simultaneous EELS & EDX tomography of an Al-Si based alloy

Haberfehlner, G., Albu, M., Orthacker, A. & Kothleitner, G., 2014, Microscopy for Global Challenges. ., S. IT-10-O-2126

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

Temperature Evolution during FIB Processing of Soft Matter: From Fundamentals towards TEM Lamella Preparation

Schmied, R., Fröch, J., Orthacker, A., Kraxner, J., Hobisch, J., Trimmel, G. & Plank, H., 2014, Microscopy for Global Challenges. ., S. IT-13-O-2227

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

Tomography in Analytical Transmission Electron Microscopy of Nanomaterials

Orthacker, A., Haberfehlner, G., Tändl, J., Poletti, M. C. & Kothleitner, G., 2014, European Workshop on Spatially-Resolved Electron Spectroscopy. ., S. 29-29

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschung

Tomography in Analytical Transmission Electron Microscopy of Nanomaterials

Orthacker, A., Haberfehlner, G., Tändl, J., Poletti, M. C. & Kothleitner, G., 2014, Microscopy for Global Challenges. ., S. IT-10-P-2280

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung

2013

Focused ion beam processing of low melting polymers: new perspectives due to optimized patterning strategies

Schmied, R., Orthacker, A., Chernev, B. S., Trimmel, G. & Plank, H., 2013, Instrumentation and Methods; Materials Science. ., S. 359-360

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in einem KonferenzbandForschungBegutachtung