Total ionizing dose effects on MOS transistors fabricated in 0.18 µm CMOS technology

Varvara Bezhenova (Redner/in)

Aktivität: Vortrag oder PräsentationPosterpräsentationScience to science

Zeitraum18 Mai 2016 - 21 Mai 2016
VeranstaltungstypKonferenz
OrtShenzhen, China
BekanntheitsgradInternational

Keywords

  • !!Electrical and Electronic Engineering
  • !!Safety, Risk, Reliability and Quality
  • !!Radiation
  • Information, Communication & Computing