Statistical Analysis of Semiconductor Images

Sarah Karasek (Redner/in), Friedl, H. (Beitragende/r), Peter Scheibelhofer (Beitragende/r)

Aktivität: Vortrag oder PräsentationVortrag bei Workshop, Seminar oder KursScience to science

Zeitraum16 Jul 2018 - 20 Jul 2018
Gehalten amInternational Workshop on Statistical Modelling 2018
VeranstaltungstypKonferenz
OrtBristol, Großbritannien / Vereinigtes Königreich
BekanntheitsgradInternational