Small Angle X-ray Scattering for Metrology on the nm-Scale

  • Amenitsch, H. (Redner/in)
  • Michele Devetta (Beitragende/r)
  • Paolo Piseri (Beitragende/r)

Aktivität: Vortrag oder Präsentation › Invited talk bei Konferenz oder Fachtagung › Science to science

Zeitraum19 Sept. 2017
EreignistitelMNE 2017: 43rd Micro Nano Engineering conference
VeranstaltungstypKonferenz
OrtBraga, PortugalAuf Karte anzeigen
BekanntheitsgradInternational

ASJC Scopus Sachgebiete

  • Werkstoffwissenschaften (insg.)
  • Physikalische und Theoretische Chemie

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science