Semicon/Europe 90 - Technical Conference

Aktivität: Vortrag oder Präsentation › Vortrag bei Konferenz oder Fachtagung › Science to science

Beschreibung

Parallel Test of Digital ASICs
Zeitraum7 März 1990
EreignistitelSemicon/Europe 90 - Technical Conference
VeranstaltungstypKonferenz
OrtZürich, SchweizAuf Karte anzeigen

Schlagwörter

  • Semicondictor Test
  • ASICs
  • Parallel Test

ASJC Scopus Sachgebiete

  • Ingenieurwesen (insg.)

Fields of Expertise

  • Information, Communication & Computing

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Application