Semicon/Europe 90 - Technical Conference

Lammer, A. (Redner/in)

Aktivität: Vortrag oder PräsentationVortrag bei Konferenz oder FachtagungScience to science

Beschreibung

Parallel Test of Digital ASICs
Zeitraum7 Mär 1990
Gehalten amSemicon/Europe 90 - Technical Conference
VeranstaltungstypKonferenz
OrtZürich, Schweiz

Keywords

  • Semicondictor Test
  • ASICs
  • Parallel Test
  • !!Engineering(all)
  • Information, Communication & Computing
  • Application