Measuring the Temperature Homogeneity Across FIB Lamellae for In-Situ TEM Experiments via Raman Scattering in Crystalline Silicon

Krisper, R. (Redner/in)

Aktivität: Vortrag oder PräsentationVortrag bei Konferenz oder FachtagungScience to science

Zeitraum19 Sep 2019
Gehalten am14th Multinational Congress on Microscopy
VeranstaltungstypKonferenz
OrtBelgrad, Serbien
BekanntheitsgradInternational

Keywords

  • !!Materials Science(all)
  • Advanced Materials Science
  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)