Measuring the Temperature Homogeneity Across FIB Lamellae for In-Situ TEM Experiments via Raman Scattering in Crystalline Silicon

  • Robert Krisper (Redner/in)

Aktivität: Vortrag oder Präsentation › Vortrag bei Konferenz oder Fachtagung › Science to science

Zeitraum19 Sept. 2019
Ereignistitel14th Multinational Congress on Microscopy
VeranstaltungstypKonferenz
OrtBelgrad, SerbienAuf Karte anzeigen
BekanntheitsgradInternational

ASJC Scopus Sachgebiete

  • Werkstoffwissenschaften (insg.)

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science

Treatment code (Nähere Zuordnung)

  • Basic - Fundamental (Grundlagenforschung)