International Symposium on Electromagnetic Compatibility

Aktivität: Vortrag oder PräsentationVortrag bei Konferenz oder FachtagungScience to science

Beschreibung

Talk: Prediction of the Robustness of Integrated Circuits against EFT/BURST
Zeitraum16 Aug 201522 Aug 2015
EreignistitelJoint IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility and EMC Europe: EMC 2015
VeranstaltungstypKonferenz
Sponsoren, EMCoS, Huawei, ,
OrtDresden, Deutschland