IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference

Aktivität: Vortrag oder Präsentation › Vortrag bei Konferenz oder Fachtagung › Science to science

Beschreibung

Talk: Comprehensive Error Analysis of Combined Channel Mismatch Effects in Time-Interleaved ADCs
Zeitraum21 Mai 2003
EreignistitelIEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference
VeranstaltungstypKonferenz
OrtSingapore, SingapurAuf Karte anzeigen