Hochfrequente Datenerfassung für erhöhtes Prozessverständnis und Prediktion im Fertigungsbereich

Pichler, R. (Redner/in)

Aktivität: Vortrag oder PräsentationVortrag bei Konferenz oder FachtagungScience to public

Zeitraum10 Sep 2020
EreignistitelProduction & IT
VeranstaltungstypKonferenz
OrtLinz, Österreich
BekanntheitsgradNational

Fields of Expertise

  • Mobility & Production

ASJC Scopus Sachgebiete

  • !!Industrial and Manufacturing Engineering

Schlagwörter

  • OPC UA, Edge Device, Prediktion, Werkzeugmaschine, Anomalie Detection