Electrical Characterization of Semiconductor Nanostructures by Conductive Probe Based Atomic Force Microscopy

Hadley, P. (Ausführende/r)

Aktivität: Prüfungs- oder BetreuungstätigkeitExterne Prüfungstätigkeit

Beschreibung

Dissertation
Zeitraum1 Apr 2011
GeprüfterIgor Beinik
Überprüfung stattgefunden amMontan Universitaet Leoben