Direct measurements of contact resistance in MoS2-based thin film transistors via Kelvin probe force microscopy

Aleksandar Matkovic (Redner/in), Andreas Petritz (Beitragende/r), Gerburg Schider (Beitragende/r), Markus Krammer (Beitragende/r), Markus Kratzer (Beitragende/r), Esther Karner-Petritz (Beitragende/r), Alexander Fian (Beitragende/r), Herbert Gold (Beitragende/r), Michael Gärtner (Beitragende/r), Andreas Terfort (Beitragende/r), Christian Teichert (Beitragende/r), Zojer, E. (Beitragende/r), Zojer, K. (Beitragende/r), Barbara Stadlober (Beitragende/r)

Aktivität: Vortrag oder PräsentationVortrag bei Konferenz oder FachtagungScience to science

Zeitraum2019
VeranstaltungstypKonferenz
OrtZürich, Schweiz
BekanntheitsgradInternational

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science