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Direct measurements of contact resistance in MoS2-based thin film transistors via Kelvin probe force microscopy
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Institut für Festkörperphysik (5130)
Aktivität
:
Vortrag oder Präsentation
›
Vortrag bei Konferenz oder Fachtagung
›
Science to science
Zeitraum
2019
Ereignistitel
Joint Annual Meeting of the Swiss
Veranstaltungstyp
Konferenz
Ort
Zürich, Schweiz
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Bekanntheitsgrad
International
Fields of Expertise
Advanced Materials Science