Direct measurements of contact resistance in MoS2-based thin film transistors via Kelvin probe force microscopy

  • Aleksandar Matkovic (Redner/in)
  • Andreas Petritz (Beitragende/r)
  • Gerburg Schider (Beitragende/r)
  • Markus Krammer (Beitragende/r)
  • Markus Kratzer (Beitragende/r)
  • Esther Karner-Petritz (Beitragende/r)
  • Alexander Fian (Beitragende/r)
  • Herbert Gold (Beitragende/r)
  • Michael Gärtner (Beitragende/r)
  • Andreas Terfort (Beitragende/r)
  • Christian Teichert (Beitragende/r)
  • Zojer, E. (Beitragende/r)
  • Zojer, K. (Beitragende/r)
  • Barbara Stadlober (Beitragende/r)

Aktivität: Vortrag oder PräsentationVortrag bei Konferenz oder FachtagungScience to science

Zeitraum2019
EreignistitelJoint Annual Meeting of the Swiss
VeranstaltungstypKonferenz
OrtZürich, Schweiz
BekanntheitsgradInternational

Fields of Expertise

  • Advanced Materials Science