Characterising Soft-Failures in Component-Level ESD Testing

Schrey, P. (Redner/in)

Aktivität: Vortrag oder PräsentationVortrag bei Konferenz oder FachtagungScience to science

Zeitraum3 Jul 2018
Gehalten am2018 14th Conference on Ph.D. Research in Microelectronics and Electronics
VeranstaltungstypKonferenz
OrtPrague, Tschechische Republik
BekanntheitsgradInternational