Bayesian Analysis of Femtosecond Pump-Probe Photoelectron-Photoion Coincidence Spectra

Heim, P. (Beitragende/r), Rumetshofer, M. (Beitragende/r), Ranftl, S. (Redner/in), Thaler, B. (Beitragende/r), Ernst, W. E. (Beitragende/r), Koch, M. (Beitragende/r), von der Linden, W. (Beitragende/r)

Aktivität: Vortrag oder PräsentationVortrag bei Workshop, Seminar oder KursScience to science

Zeitraum2 Jun 2018 - 6 Jun 2018
Gehalten amInternational Workshop on Bayesian Inference and Maximum Entropy<br/>Methods in Science and Engineering
VeranstaltungstypKonferenz
Konferenznummer38
OrtLondon, Großbritannien / Vereinigtes Königreich
BekanntheitsgradInternational

Keywords

  • Advanced Materials Science