Assessing the quality of wafer images

Sarah Karasek (Redner/in), Friedl, H. (Beitragende/r), Peter Scheibelhofer (Beitragende/r)

Aktivität: Vortrag oder PräsentationVortrag bei Konferenz oder FachtagungScience to science

Zeitraum28 Mai 2017
Gehalten amENBIS Spring Meeting on Predictive Maintenance and Reliability with Big and Complex Data
VeranstaltungstypWorkshop
OrtAigen-Schlägl, Österreich