Alternative Patterning Strategies for Reduced Thermal Stress during Focused Ion Beam Processing

Aktivität: Vortrag oder Präsentation › Invited talk bei Konferenz oder Fachtagung › Science to science

Zeitraum4 Sept. 2011 → 9 Sept. 2011
Ereignistitel10th Multinational Congress on Microscopy: MCM 2011
VeranstaltungstypKonferenz
OrtUrbino, ItalienAuf Karte anzeigen