7th Autumn School on X-ray scattering from surfaces and thin layers

Heinz-Georg Flesch (Redner/in)

Aktivität: Vortrag oder PräsentationVortrag bei Konferenz oder FachtagungScience to science

Beschreibung

Talk: X-ray Reflectivity and Ellipsometry - a Combined Approach for Polymer Thin Film Characterization
Zeitraum4 Okt 2007 - 6 Okt 2007
VeranstaltungstypKonferenz
OrtSmolenice, Slowakei